X射线荧光镀层厚度测量仪
    发布时间: 2017-09-09 10:46    

SFT9455

X射线荧光镀层厚度测量仪

特点
高功率X射线管和检测器上配备有比例计数管和半导体检测器。可对应薄膜.合金膜.极微小部测量等所有需求,也可对应异物的定性分析和材料的成分分析。

技术规格

测量元素 原子序号22(Ti)~83 (Bi)
X射线源 空冷式小型X射线管(50KV  1.5mA)
检测器 Vortex
准直器 4种
样品观察 CCD摄像头(带图像放大功能)
对焦 激光点
样品台 SFT9400:220(X)X 150(Y)X 150(Z)mm
SFT9450:400(X)X 300(Y)X 50(Z)mm
SFT9450:700(X)X 600(Y)X 15(Z)mm
滤波器 3段切换
X-ray Station 电脑、19英寸液晶
测量软件 薄膜FP法(最多5层、10种元素)标准曲线法
测量功能 目动测量 中心搜索 
数据处理软件 Microsoft Excel、Microsoft Word
安全构造 样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能
产品分类