X射线荧光镀层厚度测量仪
    发布时间: 2017-09-09 10:47    

SFT9500

X射线荧光镀层厚度测量仪

特点
通过配备聚光型光字系统和高计数率、高分辨半导体检测器,实现了
高灵敏度、高精度的测量,也可进行环境管制物质的元素扫描。

技术规格

测量元素 原子序号13(Ai)~ 92 (U) 
X射线源 空冷式小型X射线管(50KV  1.5mA)
检测器 半导体检测器(无需液氮新)
准直器 实际照射0.1mm(聚光方式) 
样品观察 CCD摄像头(带图像放大功能)
对焦 激光点
样品台 SFT9500:220(X)X 150(Y)X 150(Z)mm
SFT9550:400(X)X 300(Y)X 50(Z)mm
滤波器 电动切换(1次:3种状态)
X-ray Station 电脑、19英寸液晶
测量软件 标准曲线 FP软件(块体薄膜)
测量功能 目动测量 中心搜索 
数据处理软件 Microsoft Excel、Microsoft Word
安全构造 样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能
产品分类